近场扫描显微镜（SNOM）的关键要素是沿着样品非常近的距离（通常小于10 nm）扫描的小孔径（在我们的情况下为激光照明光纤探针的一端）。

目前，最常用的探针-样品距离调节方法取决于近场探针末端与样品之间的剪切力检测[1]。基于剪切力的系统允许同时进行剪切力和近场成像，包括用于透明样品的透射模式，用于不透明样品的反射模式和用于获得样品附加特征的发光模式。

获取有关表面信息的非光学方法的核心思想是使用石英音叉的响应与表面相互作用，该响应连接到光纤。借助于外部进给元件，可在横向振动中激发系统的光纤石英，从而提高石英共振频率。使用进一步的压电效应：在存在机械振荡的情况下，石英的电输出具有电压响应，该电压响应用作有关纤维振荡幅度的信息信号。

SNOM的发光模式与剪切力显微镜同时实现，而剪切力显微镜又通过以下方式实现。压电驱动器通过石英音叉激发光纤探头的初始振幅。石英的合适输出值为A _o。接近样品表面后，光纤探针振荡的振幅达到某个设定值，石英输出达到值A。之后，通过反馈系统在保持该值的情况下进行样品表面扫描。

在扫描下，样品被纤维探针照亮，并且通过物镜和陷波滤光片的样品光被引导到光电倍增管上。

References

1. Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).