TS300-SE Probe System
MPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探针台旨在对300mm晶圆及以下微小器件提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪声,低泄漏测量功能环境。 它以最佳高度与防震台结合在一起,使日常操作非常方便。
适用于多种晶圆量测应用
- 如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
- MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
- 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境
- 支援飞安级低漏电值量测
- 内置防震系统
- 温度量测范围 -60 °C 至 300 °C
TS300-SE Probe System细节优势
MPI TS300-SE手动探针台系统具有无与伦比的功能。具有高度可重复性(1µm)的压板提升设计,具有用于安全,接触(0µm),分离(300µm)和加载(3mm)的三个抬升位置。这些功能可防止意外的探针或晶圆损坏,同时提供直观的控制,准确的触点定位和安全设置。 附加的Probe Hover Control™具有悬停高度(50、100或150 µm),可轻松方便地将探针与卡盘对齐。
特点与优势
ShielDEnvironment™
MPI ShielDEnvironment™是一个高性能的微暗室屏蔽系统,可提供超低噪声、低电容测量提供出色的EMI和不透光的测试环境。
ShielDCap™
MPI ShielDEnvironment™微暗室屏蔽系统提供多达 4个端口的RF或多达8个端口的DC / Kelvin等多种搭配测试组合。
MPI ShielDCap™便于屏蔽,易于重新配置,在简化日常操作方面发挥了重要作用。
空气轴承
MPI独特的气垫载物台设计,具有简单的单手定标器控制,为快速的XY导航和晶圆装载提供了无与伦比的操作便利性,同时又具有精密的25x25mm的XY-Theta千分尺机芯,不影响精确定位能力。
独特的卡盘Z调整
TS300-SE除空气轴承XY工作台外还包括5mm的Z吸盘调整(μm分辨率),可实现精确的接触/超程控制或探针卡跌落尖端校正。
1毫米刻度指示器为操作员提供了简便的反馈,另外20毫米气动举升机提供了便携式的一键升降程序。
多种卡盘选项
TS300-SE可提供多种卡盘选件,以满足不同的预算和应用要求。
MPI和ERS共同设计了新型300mm热卡盘AirCool®PRIME技术系列,提供无与伦比的热弹性,温控时间可减少60%,同时还可提供市场上最大的热范围。
减少转换时间,改善电气性能,使在惰性气体环境下的测试更容易,另外的现场可升级性是AirCool®PRIME热卡盘系统的附加价值。
卡盘有以下几种型号:同轴、三轴或RF、高压等多种型号,带有两个辅助陶瓷卡盘,可用于精确稳定的校准。
温度控制集成
晶圆装载门可在低于15°C的任何温度下锁定,此独特功能使TS300-SE成为市场上最安全的手动探针台。
此外,温控系统可以通过集成式的触摸屏进行操作,该触摸屏按人体工程学原理安装在探测器上的方便位置,以实现快速调整和即时反馈。
ERS独特的AC3冷却技术
MPI旗下探针台系统均采用ERS独特的AC3冷却技术及其空气管理系统,可直接从“已用”空气中清除MPI ShielDEnvironment™,与市场上的其他系统相比,可减少多达30%至50%的干燥空气消耗。
多种光学选项
MPI光学器件可以选择单筒显微镜MPI SuperZoom™SZ10,高达12倍光学变焦的MegaZoom™MZ12或超过42毫米工作距离的EeyZoom™EZ10 ——其具有人体工程学20倍目镜的10倍光学变焦系统,90mm工作距离和低至2um以下的光学分辨率。
独特的升级途径
MPI旗下全套探针台测试系统均具备模块化设计创造了独特的升级途径。所有TS300-SE探测附件,例如热卡盘,显微镜和定位器,都可以升级或重新配置,以适应涵盖工具寿命的各种应用需求,从而使拥有成本降低。
具有ShielDEnvironment™的MPI TS300-SE探针系统可提供最大的EMI屏蔽,并允许进行低噪声的器件在片测量,从而可广泛用于各种应用,例如器件表征和建模,RF /微波,晶片级可靠性,失效分析, 设计验证和大功率等。