摩方3D打印
(2μm) P130 标准幅面
(2μm) S130 大幅面
(10μm) P140 标准幅面
(10μm) S140 大幅面
(25μm) P150 大幅面
Park AFM
XE7经济型原子力显微镜
NX10高分辨率原子力显微镜
NX12多功能原子力显微镜
NX-Hivac高真空原子力显微镜
XE15大样品台工业原子力显微镜
NX20高精度全自动大面积原子力显微镜
表面分析
AFM
孔径式SNOM
超高分辨散射式SNOM
纳米傅里叶红外光谱仪
AFM-Raman
变温扫描探针显微镜
AFM in SEM
白光干涉仪&轮廓仪
摩擦磨损试验机
激光元素分析仪
生物医学
荧光高光谱成像系统
高光谱共聚焦系统
拉曼成像系统
超光谱模块
小动物活体成像
超光谱相机S-EOS
超光谱相机V-EOS
超光谱相机GRAND-EOS
高光谱相机
光片荧光显微镜
小型台式质谱仪
X-Ray相关
X射线波带片
校准标样
加工定制
SOI芯片订制
应用文库
关于我们
关于我们
联系我们
applications
应用文库
SPM原理
28
纳米技术
12
生命科学
5
材料分析
14
工业领域
6
当前位置——>应用文库——>applications
原子力显微镜概述
接触模式AFM
接触模式-恒高模式
接触模式-恒力模式
横向力模式
扩散电阻模式
超声原子力显微镜
压电响应力显微镜
间歇接触方式
相位成像模式
静电力模式
扫描电容显微镜
开尔文探针显微镜
磁力显微镜模式
原子力显微镜-力曲线
原子力显微镜-相位距离曲线
原子力显微镜-频率距离曲线
STM概述
STM恒流模式
STM恒高模式
1
2
3
Next →
表面分析
原子力显微镜
孔径式扫描近场光学显微镜
超高分辨散射式近场光学显微镜
AFM-Raman
aarhus150
AFM in SEM
白光干涉仪&轮廓仪
摩擦磨损试验机
激光元素分析仪
生物医学
荧光高光谱成像系统
高光谱共聚焦系统
拉曼成像系统
超光谱模块
小动物活体成像
超光谱相机S-EOS
超光谱相机V-EOS
超光谱相机GRAND-EOS
高光谱相机
光片荧光显微镜
小型台式质谱仪
X-Ray相关
X射线波带片
校准标样
加工定制
SOI芯片订制
应用文库
关于我们
关于我们
联系我们
Copyright © 八帆仪器设备有限公司
沪ICP备18014562号-1
备案查询:http://www.beian.miit.gov.cn